Hysitron #TI-900, TriboIndenter, Campo de visión máx. de 0.625 mm x 0.55 mm, Recorrido de las etapas X e Y de 250 mm x 150 mm, Recorrido de la etapa Z de 50 mm

Descripción

Hysitron TI 900 TriboIndenter

Inventario # 9566-P

Modelo: TI 900

Descripción:

Hysitron ofrece in situ estándares de imágenes de microscopía de sonda de barrido (SPM) in situ con cada instrumento de pruebas nanomecánicas. La in situ La capacidad de imágenes SPM del TriboIndenter TI 900 es fundamental para la colocación precisa de las pruebas y la identificación de la microestructura

La in situ las imágenes se obtienen mediante el barrido raster de la sonda indentadora sobre la superficie de la muestra para permitir la observación de la superficie del material antes y después de la prueba. Esta función permite posicionar la sonda indentadora a menos de diez nanómetros de la ubicación de prueba deseada. La identificación y caracterización de fases en materiales multifásicos o de características finas de la superficie de la muestra solo se pueden realizar de manera confiable mediante el uso de imágenes SPM in situ

Las imágenes posteriores a la prueba también permiten verificar que la prueba se realizó en la ubicación prevista, lo que maximiza la confiabilidad de los datos y ayuda a explicar resultados de prueba inesperados

Especificaciones:

Especificaciones ópticas:

Campo de visión normal:

Máximo: 0.625mm x 0.550mm (625 µm x 550 µm)

Mínimo: 0.028mm x 0.022mm (28 µm x 22 µm)

Aumento:

Óptico: 20x

Zoom digital: 0.5x – 11x

Efectivo: 10x – 220x

Especificaciones del transductor:

Carga:

Resolución: <1 nN

Nivel de ruido: 100 nN

Desplazamiento:

Resolución: 0.0004 nm

Nivel de ruido: 0.2 nm

Deriva: <0.05 nm/sec.

Especificaciones de la platina:

Platina X y Y:

Recorrido: 250 mm x 150 mm

Resolución del codificador: 500 nm

Platina Z:

Recorrido: 50 mm

Resolución: 3 nm

Características estándar:

El transductor capacitivo patentado de Hysitron ofrece sensibilidad y estabilidad líderes en la industria

Pruebas automatizadas para un alto rendimiento y muestreo estadístico de materiales

La obtención de imágenes in situ ofrece posicionamiento con precisión de nanómetros y la comodidad de la topografía SPM

El gabinete acústico y térmico, junto con el diseño estable del transductor, minimiza el tiempo de configuración y estabilización

Óptica de visualización superior para ver y seleccionar los sitios de prueba

Etapa de resolución submicrométrica para posicionar muestras

Numerosos complementos que permiten la mayor variedad de capacidades de prueba del mercado

Los sistemas activos de amortiguación de vibraciones garantizan bajo nivel de ruido y sensibilidad sin compromisos

FOB Nuestro almacén en Baltimore, MD

TENGA EN CUENTA: ESTA MÁQUINA SE VENDE TAL COMO ESTÁ, EN EL ESTADO EN QUE SE ENCUENTRA TRAS LA INSPECCIÓN, SIN GARANTÍA Y SIN DERECHO A DEVOLUCIÓN